现行

GB/T 38341-2019

微机电系统(MEMS)技术　MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
Micro-electromechanical system technology—The reliability test methods of MEMS in integrated environments

2019-12-31

现行

GB/T 44842-2024

微机电系统（MEMS）技术 薄膜材料的弯曲试验方法
Micro-electromechanical systems （MEMS） technology—Bend testing methods of thin film materials

2024-10-26

现行

GB/T 44839-2024

微机电系统（MEMS）技术 MEMS材料微柱压缩试验方法
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology一Micro-pillar compression test for MEMS materials

2024-10-26

现行

GB/T 38446-2020

微机电系统（MEMS）技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法
Micro-electromechanical system technology—Test methods for tensile property measurement of strip thin films

2020-03-06

现行

GB/T 38447-2020

微机电系统（MEMS）技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
Micro-electromechanical system technology—Fatigue testing method of MEMS structure using resonant vibration

2020-03-06

现行

GB/T 42896-2023

微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法
Micro-electromechanical systems（MEMS） technology—Impact test method for nanostructures of silicon based MEMS

2023-08-06

现行

GB/T 42158-2023

微机电系统（MEMS）技术 微沟槽和棱锥式针结构的描述和测量方法
Micro-electromechanical systems technology（MEMS） —Description and measurement methods for micro trench and pyramidal needle structures

2023-03-17

现行

GB/T 44919-2024

微机电系统(MEMS)技术　薄膜力学性能的鼓胀试验方法
Micro-electromechanical systems(MEMS) technology—Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films

2024-11-28

现行

GB/T 42895-2023

微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法
Micro-electromechanical systems（MEMS）technology—Bending strength test method for microstructures of silicon based MEMS

2023-08-06

现行

BS EN 62047-11-2013

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices-Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
半导体器件 微机电设备

2013-10-31

现行

GB/T 44513-2024

微机电系统（MEMS）技术 传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application

2024-09-29

现行

GB/T 34899-2017

微机电系统（MEMS）技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method of microstructure surface stress based on Raman spectroscopy

2017-11-01

现行

GB/T 44849-2024

微机电系统（MEMS）技术 金属膜材料成形极限测量方法
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Forming limit measuring method of metallic film materials

2024-10-26

现行

GB/T 42897-2023

微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法
Micro-electromechanical systems（MEMS） technology—Tensile strength test method for nano-scale membranes of silicon based MEMS

2023-08-06

现行

IEC 62047-11-2013

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
半导体器件 - 微机电器件 - 第11部分:用于微机电系统的自由立体材料的线性热膨胀系数的测试方法

2013-07-17

现行

GB/T 44514-2024

微机电系统（MEMS）技术 层状MEMS材料界面黏附能四点弯曲试验方法
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials

2024-09-29

现行

GB/T 34894-2017

微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for strain gradient measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer

2017-11-01

现行

GB/T 34900-2017

微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for residual strain measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer

2017-11-01

现行

GB/T 34893-2017

微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer

2017-11-01

现行

GB/T 44517-2024

微机电系统（MEMS）技术 MEMS膜残余应力的晶圆曲率和悬臂梁挠度试验方法
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Wafer curvature and cantilever beam deflection test methods for determining residual stresses of MEMS films

2024-09-29