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Optics and photonics — Measurement of optical elements and optical systems — Part 4: Interpretation and evaluation of surface form and wavefront deformation tolerances specified in ISO 10110 光学和光子学 光学元件和光学系统的测量 第4部分:ISO 10110规定的表面形状和波前变形公差的解释和评定
发布日期: 2026-05-28
本文件适用于与光学元件的表面形状偏差或光学系统的波前变形的测量相关的数据的解释。通常通过使用干涉测量技术生成测量数据,但是其他测量技术也生成测量数据以描述表面形状偏差或波前变形。 本文件给出了根据ISO 10110-5和/或ISO 10110-14编制的光学元件和系统图纸中规定的光学功能和数值的定义,其相应的命名法、功能和数值列于ISO 10110-5:20 26附录B中。

This document applies to the interpretation of data relating to the measurement of the surface form deviations of optical elements or the wavefront deformations of optical systems. Often the measurement data are generated by using interferometric techniques, but other measurement techniques also generate measurement data to describe the surface form deviations or wavefront deformations.

This document gives definitions of the optical functions and values specified in the preparation of drawings for optical elements and systems, made in accordance with ISO 10110-5 and/or ISO 10110-14 for which the corresponding nomenclature, functions, and values are listed in ISO 10110-5:2026, Annex B.

分类信息
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研制信息
归口单位: ISO/TC 172/SC 1
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