现行

UNE-EN 60749-29-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 29: Latch-up test
半导体器件机械和气候试验方法第29部分:闭锁试验

2004-07-09

现行

IEC 60749-29-2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第29部分:闩锁测试

2011-04-07

现行

GB/T 4937.29-2025

半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 29: Latch-up test

2025-12-02

现行

BS 09/30209746 DC

BS EN 60749-29. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 29. Latch-up test
英国标准EN 60749-29 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分 闭锁试验

2009-09-08

现行

KS C IEC 60749(2020 Confirm)

반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법
半导体器件机械和气候试验方法

2004-08-13

现行

KS C IEC 60749(2020 Confirm)

반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법
半导体器件机械和气候试验方法

2004-08-13

现行

GOST 28578-1990

Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания
半导体器件 机械和气候试验方法

现行

KS C IEC 60749(2025 Confirm)

반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법
半导体器件机械和气候试验方法

现行

KS C IEC 60749(2025 Confirm)

반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법
半导体器件机械和气候试验方法

2004-08-13

现行

BS EN 60749-8-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Sealing
半导体器件 机械和气候试验方法

2003-07-03

现行

BS EN 60749-1-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-General
半导体器件 机械和气候试验方法

2003-07-07

现行

BS EN 60749-21-2011

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Solderability
半导体器件 机械和气候试验方法

2011-08-31

现行

BS EN 60749-38-2008

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Soft error test method for semiconductor devices with memory
半导体器件 机械和气候试验方法

2008-06-30

现行

BS EN IEC 60749-17-2019

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Neutron irradiation
半导体器件 机械和气候试验方法

2019-05-15

现行

BS EN 60749-22-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Bond strength
半导体器件 机械和气候试验方法

2003-07-04

现行

BS EN 60749-25-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Temperature cycling
半导体器件 机械和气候试验方法

2003-10-30

现行

BS EN 60749-9-2017

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Permanence of marking
半导体器件 机械和气候试验方法

2017-11-27

现行

BS EN 60749-34-2010

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Power cycling
半导体器件 机械和气候试验方法

2011-02-28

现行

UNE-EN 60749-10-2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 10: Mechanical shock.
半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械冲击

2003-05-30

现行

KS C IEC 60749-10

반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험방법 — 제10부: 기계적 충격
半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第10部分:机械冲击

2020-07-23