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国家标准馆 国家数字标准馆 发展大事记
现行 JY/T 0584-2020
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扫描电子显微镜分析方法通则 General rules of analytical methods for scanning electron microscope
发布日期： 2020-09-29
实施日期： 2020-12-01
本标准规定了扫描电子显微镜(scanning electron microscope,以下简称扫描电镜或SEM)的分析方法原理、环境条件指标﹑仪器、样品、分析测试,结果报告﹑仪器维护和安全注意事项。本标准适用于利用各类扫描电镜进行的微观形貌﹑微区成分和结构分析等
分类信息
发布单位或类别： 中国-行业标准-教育
CCS分类： Y51轻工、文化与生活用品 - 文教、体育、娱乐用品 - 教学专用仪器
ICS分类： 03.180社会学、 服务、公司(企业)的组织和管理、行政、运输 - 教育
关联关系
研制信息
归口单位： 全国教育装备标准化技术委员会化学分技术委员会
起草单位： 天津大学、 华南理工大学、 扬州大学、 苏州大学、 哈尔滨工业大学
起草人： 姚琲、 尹诗衡、 周卫东、 高伟健、 魏大庆
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