首页 馆藏资源 标准快讯 标准数字化 呈缴征集 标准服务 关于我们
珍贵馆藏 国家标准 行业标准 地方标准 团体标准 国际（区域）标准 国外国家标准 国际性专业标准 技术法规
国内快讯 国际快讯 标准速递 馆藏上新
组织建设 标准研制 科研工作 系统工具 蓝皮书
国标呈缴 自愿呈缴 藏品征集
文献服务 知识服务 服务站点 专题服务
国家标准馆 国家数字标准馆 发展大事记
搜索
高级检索
批量检索
高级检索
31.080.01
标准层级
全部
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国家
全部
中国(245)
国际组织(220)
韩国(98)
美国(52)
俄罗斯(6)
英国(1)
标准组织
全部
国际电工委员会(208)
团体标准(109)
韩国标准(98)
国家标准(68)
美国材料与试验协会(52)
国家标准研制计划(44)
电子(12)
国际标准化组织(7)
俄罗斯标准(6)
机械(5)
欧洲标准化委员会(5)
欧洲技术法规(5)
航天(3)
贵州省(2)
天津市(1)
河北省(1)
英国技术法规(1)
更多
发布年代
全部
2026(6)
2025(84)
2024(46)
2023(39)
2022(42)
2021(35)
2020(34)
2019(17)
2018(29)
2017(31)
2016(21)
2015(2)
2014(4)
2013(8)
2012(11)
2011(16)
2010(14)
2009(7)
2008(20)
2007(9)
2006(18)
2005(4)
2004(7)
2003(12)
2002(22)
2001(15)
2000(13)
1999(7)
1998(8)
1997(2)
1996(8)
1995(2)
1994(5)
1993(4)
1992(1)
1991(9)
1990(3)
1988(2)
1985(1)
1980(1)
1979(1)
1974(1)
1966(1)
更多
标准状态
全部
现行(416)
作废(42)
历史(38)
已修订(37)
未生效(24)
被代替(15)
废止(10)
CCS
全部
A综合(4)
C医药、卫生、劳动保护(24)
G化工(2)
H冶金(9)
J机械(2)
K电工(9)
L电子元器件与信息技术(127)
M通信、广播(3)
N仪器、仪表(5)
Q建材(1)
展开全部分类
  • 排序结果：
  • 相关性
  • 标准号
  • 发布时间
废止
ASTM F615-79(1988)
Practice for Determining Safe Current Pulse Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Withdrawn 1995)
到馆提醒
收藏跟踪
半导体元件金属化用安全电流脉冲工作区的测定实施规程（1995年撤销）
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期：
CCS分类：
废止
ASTM F867M-94A
Guide for Ionizing Radiation Effects (Total Dose) Testing of Semiconductor Devices [Metric] (Withdrawn 1998)
到馆提醒
收藏跟踪
半导体器件电离辐射效应（总剂量）试验指南[米制]（1998年撤回）
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期：
CCS分类：
ICS分类：17.240辐射测量
作废
ASTM F1032-91
Guide for Measuring Time-Dependant Total-Dose Effects in Semiconductor Devices Exposed to Pulsed Ionizing Radiation (Withdrawn 1994)
到馆提醒
收藏跟踪
暴露于脉冲电离辐射的半导体器件中与时间相关的总剂量效应的测量指南（1994年撤销）
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期：
CCS分类：
作废
ASTM F1191-88
Guide for the Radiation Testing of Semiconductor Memories (Withdrawn 1993)
到馆提醒
收藏跟踪
半导体存储器辐射试验指南（1993年撤销）
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期：
CCS分类：
作废
ASTM F78-97(2002)
Standard Test Method for Calibration of Helium Leak Detectors by Use of Secondary Standards (Withdrawn 2008)
到馆提醒
收藏跟踪
使用二级标准校准氦泄漏探测器的标准试验方法（2008年退款）
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2002-12-10
CCS分类：
作废
ASTM F1211-89(2001)
Standard Specification for Semiconductor Device Passivation Opening Layouts (Withdrawn 2007)
到馆提醒
收藏跟踪
半导体器件钝化开放布局标准规范（撤回2007）
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2001-01-01
CCS分类：
现行
T/CASAS 052-2025
非钳位感性负载开关应力下GaN HEMT在线测试方法
到馆提醒
收藏跟踪
Online test method of GaN High-Electron-Mobility-Transistor under unclamped inductive switching
发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2025-05-26
作废
ASTM E427-95(2006)
Standard Practice for Testing for Leaks Using the Halogen Leak Detector(Alkali-Ion Diode) (Withdrawn 2013)
到馆提醒
收藏跟踪
使用卤素检漏仪（碱性离子二极管）进行泄漏检测的标准实践（2013年撤回）
发布单位或类别：美国材料与试验协会
发布日期： 2006-12-01
CCS分类：
现行
T/CASAS 031-2023
面向5G基站应用的Sub-6GHz氮化镓功放 模块测试方法
到馆提醒
收藏跟踪
发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2023-06-30
CCS分类：
作废
SJ/T 10229-1991
XJ4810半导体管特性图示仪
到馆提醒
收藏跟踪
Graphic instrument for characteristics of semiconductor tubes for Type XJ4810
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 1991-05-28
  • 关于国家数字标准馆
  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
    • 关于我们
    文献服务
  • 查标准
  • 看标准
  • 买标准
  • 译标准
  • 订单查询
    • 知识服务
  • 查新颖性
  • 查有效性
  • 跟踪标准
  • 比对标准
    • 标准数字化
  • 专题数据库
  • 标准管理系统
  • 大数据分析系统
  • 标准智能编写系统
    • 地址：北京市海淀区知春路4号
    技术支持：010-58811974/1972/1360/1341/1328
    邮箱：service@cnis.ac.cn
    访问量： 自2024年10月至今总访问量
    出版物经营许可证：新出发京批字第直170229号
    备案号：
    京ICP备10046988号-46 京公网安备11010802045562号
    ️版权归中国标准化研究院所有