BS 04/30126443 DC-IEC 60749-38第1版半导体器件机械和气候试验方法第38部分电子元件的软错误率测试-国家标准馆·国家数字标准馆

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IEC 60749-38 ED.1. Semiconductor devices mechanical and climatic test methods. Part 38. Soft error rate testing of electronic components IEC 60749-38第1版半导体器件机械和气候试验方法第38部分电子元件的软错误率测试

发布日期： 2004-12-08

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2005-06-30

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DIN EN IEC 60749-23-2025-10

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 47/2881/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-23:2024
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2025-10-01

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DIN EN IEC 60749-20-1-2018-11

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prfverfahren - Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Transport oberflchenmontierbarer Bauelemente, die empfindlich gegen die Kombination von Feuchte und Ltwrme sind (IEC 47/2488/CDV:2018); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-20-1:2018
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2018-11-01

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