GB/T 4937.28-2026-半导体器件机械和气候试验方法第28部分：静电放电（ESD）敏感度测试带电器件模型（CDM）器件级-国家标准馆·国家数字标准馆

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半导体器件机械和气候试验方法第28部分：静电放电（ESD）敏感度测试带电器件模型（CDM）器件级 Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Charged device model (CDM)—device level

发布日期： 2026-02-27

实施日期： 2026-09-01

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L40电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体分立器件综合

ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位：河北北芯半导体科技有限公司、合肥科微芯测科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、河北科技大学、中国科学院微电子研究所、西安电子科技大学、天津大学、中国人民解放军陆军工程大学石家庄校区、吉林华微电子股份有限公司、吉林麦吉柯半导体有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、吉林江机特种工业有限公司、江苏长晶科技股份有限公司、重庆平伟实业股份有限公司、杭州远方电磁兼容技术有限公司、迅芯微电子（苏州）股份有限公司、湖南中南鸿思自动化科技有限公司、广东众志检测仪器有限公司、佛山市通科电子有限公司、合肥沛顿存储科技有限公司、日照鲁光电子科技有限公司、芯百特微电子（无锡）有限公司、广东科信电子有限公司、珠海诚锋电子科技有限公司、广州盛中电子有限公司、先之科半导体科技（东莞）有限公司、上海源悦汽车电子股份有限公司

起草人：张涛、赵宇洋、许中广、迟雷、吴小帅、王宇涛、桂明洋、王冲、郑雪峰、王超、孙宏军、杨洁、贾林、陈亚洲、胡小锋、陈龙坡、焦龙飞、安伟、周晓黎、张崇、彭浩、席善斌、胡松祥、曹耀龙、陈昱宇、张宇航、陈浩祥、邵伟恒、孙锴、李博、李仲茂、常江、杨寿国、单书珊、尹丽晶、李延林、孙哲、雷胡敏、杨国江、刘健、于胜东、张晋尘、李斌晖、李述洲、谷亚敏、张文华、刘芳、涂辛雅、姜明宝、武锦、唐佳、李兴哲、钟剑锋、黄初期、何洪文、朱礼贵、张海涛、柯佳键、张腾、徐兴华、骆宗友、张鹏程

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