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IEC 60749-37:2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第37部分:使用加速度计的板级跌落测试方法
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2008-01-30
CCS分类:
现行
IEC 62779-1:2016
Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 1: General requirements
半导体器件 - 人体通信半导体界面 - 第1部分:一般要求
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2016-02-18
CCS分类:
现行
IEC 60749-15:2020 RLV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
半导体器件.机械和气候试验方法.第15部分:通孔安装器件的耐焊接温度
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2020-07-14
CCS分类:
现行
IEC 63287-2:2023
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
半导体器件.可靠性鉴定计划指南.第2部分:任务概要概念
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2023-03-29
CCS分类:
现行
IEC 62969-4:2018
Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles - Part 4: Evaluation method of data interface for automotive vehicle sensors
半导体器件.汽车用半导体接口.第4部分:汽车传感器数据接口的评定方法
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2018-06-18
CCS分类:
已修订
IEC 60749-3:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第3部分:外部目视检查
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2002-04-09
CCS分类:
现行
IEC 63373:2022
Dynamic on-resistance test method guidelines for GaN HEMT based power conversion devices
GaN HEMT基功率转换器件动态导通电阻测试方法指南
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2022-02-10
CCS分类:
被代替
高温储存寿命
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2000-11-28
CCS分类:
现行
IEC 62435-9:2021
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 9: Special cases
电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第9部分:特殊情况
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2021-08-25
CCS分类:
现行
IEC 62435-2:2017
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms
电子元件 - 电子半导体器件的长期存储 - 第2部分:劣化机制
发布单位或类别:国际电工委员会
发布日期: 2017-01-24
CCS分类: