现行

GOST R 53734.3.1-2013

Электростатика. Методы моделирования электростатических явлений. Электростатический разряд. Модель человеческого тела
静电 静电效应模拟方法 人体模型静电放电

现行

GOST R 53734.3.2-2013

Электростатика. Методы моделирования электростатических явлений. Электростатический разряд. Модель механического устройства
静电 静电效应模拟方法 机械装置静电放电模型

现行

UNE-EN 61340-3-1-2008

Electrostatics -- Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic effects - Human body model (HBM) electrostatic discharge test waveforms
静电学第3-1部分:静电效应模拟方法人体模型（HBM）静电放电试验波形

2008-04-02

现行

KS C IEC 61340-3-1(2017 Confirm)

정전기－제3－1부：정전기 영향의 시뮬레이션 방법：인체모델(HBM)－부품소자시험
静电学第3－1部分:静电效应模拟方法人体模型部件试验

2007-11-29

现行

BS EN 61340-3-2-2007

Electrostatics-Methods for simulation of electrostatic effects. Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms
静电学

2007-04-30

现行

GB/T 37977.32-2019

静电学 第3-2部分:静电效应的模拟方法 机器模型（MM）的静电放电试验波形
Electrostatics—Part 3-2:Methods for simulation of electrostatic effects—Machine model(MM)electrostatic discharge test waveform

2019-08-30

现行

GOST R 53734.3.3-2016

Электростатика. Методы моделирования электростатических явлений. Электростатический разряд. Модель заряженного устройства (МЗУ)
静电放电敏感性测试方法 带电设备型号（CDM）

现行

KS C IEC 61340-3-2(2017 Confirm)

정전기－제3－2부：정전기 영향의 시뮬레이션 방법－기계모델(MM)－부품소자시험
静电学第3－2部分:静电效应模拟方法机器模型（MM）部件试验

2007-11-29

现行

BS 05/30127805 DC

IEC 61340-3-1 ED.2. Electrostatics. Part 3-1. Methods for simulation of electrostatic effects. Human body model (HBM). Component testing
IEC 61340-3-1第2版 静电学 第3-1部分 静电效应的模拟方法 人体模型（HBM） 组件测试

2005-01-18

现行

UNE-EN 61340-3-2-2007

Electrostatics -- Part 3-2: Methods for simulation of electrostatic effects - Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms (IEC 61340-3-2:2006)
静电学第3-2部分:静电效应的模拟方法机器模型（MM）静电放电试验波形（IEC 61340-3-2-2006）

2007-11-28

现行

BS 05/30127809 DC

IEC 61340-3-2 ED.2. Electrostatics. Part 3-2. Methods for simulation of electrostatic effects. Machine model (MM). Component testing
IEC 61340-3-2第2版 静电学 第3-2部分 静电效应的模拟方法 机器型号（毫米） 组件测试

2005-01-18

现行

BS EN IEC 60749-26-2018

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
半导体器件 机械和气候试验方法 静电放电（ESD）灵敏度测试 人体模型（HBM）

2018-04-30

现行

IEC 60749-26-2025

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）

2025-12-23

现行

IEC 60749-26-2025 CMV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）

2025-12-23

现行

GB/T 4937.26-2023

半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body model（HBM）

2023-09-07