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JEDEC JESD302-1
TS5111, TS5110 Serial Bus Thermal Sensor Device Standard
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TS5111、TS5110串行总线热传感器设备标准
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 2022-01-01
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JEDEC JESD 78B
IC LATCH-UP TEST
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集成电路闭锁试验
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 2008-12-01
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JEDEC JESD8-26
1.2 V High-Speed LVCMOS (HS_LVCMOS) Interface
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1.2 V高速LVCMOS（HS_LVCMOS）接口
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 2011-09-01
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JEDEC JESD8-31
1.8 V HIGH-SPEED LVCMOS (HS_LVCMOS) INTERFACE
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1.8V高速LVCMOS（HS_LVCMOS）接口
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 2018-03-01
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JEDEC JESD8-12A.01
1.2 V +/- 0.1 V (NORMAL RANGE) AND 0.8 - 1.3 V (WIDE RANGE) POWER SUPPLY VOLTAGE AND INTERFACE STANDARD FOR NONTERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
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无终端数字集成电路的1.2 V+/-0.1 V（正常范围）和0.8-1.3 V（宽范围）电源电压和接口标准
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 2007-09-01
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JEDEC JESD251A
Expanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
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非易失性存储器设备的扩展串行外围接口（xSPI）
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 2020-02-01
CCS分类：
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历史
JEDEC JESD22-B111
BOARD LEVEL DROP TEST METHOD OF COMPONENTS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
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手持电子产品元件板级跌落试验方法
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 2003-07-01
CCS分类：
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现行
JEDEC JEP153A
CHARACTERIZATION AND MONITORING OF THERMAL STRESS TEST OVEN TEMPURATURES
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热应力试验烘箱温度的表征和监测
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 2014-03-01
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现行
JEDEC JESD211.01
ZENER AND VOLTAGE REGULATOR DIODE RATING VERIFICATION AND CHARACTERIZATION TESTING
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齐纳和电压调节器二极管额定值验证和特性测试
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 2012-11-01
CCS分类：
ICS分类：
现行
JEDEC JESD 320-A(R2002)
CONDITIONS FOR MEASUREMENT OF DIODE STATIC PARAMETERS
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二极管静态参数的测量条件
发布单位或类别：(美国)固态技术协会,隶属EIA
发布日期： 1992-12-01
CCS分类：
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